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シリコン・カービッドの従来の切削にさよなら! BWTの15Wピコ秒赤外線レーザーは 半導体産業を飛躍させています
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シリコン・カービッドの従来の切削にさよなら! BWTの15Wピコ秒赤外線レーザーは 半導体産業を飛躍させています

2024-12-13
Latest company news about シリコン・カービッドの従来の切削にさよなら! BWTの15Wピコ秒赤外線レーザーは 半導体産業を飛躍させています

半導体産業における世界的な競争が激化するにつれて 3代目の半導体材料であるシリコンカービッド (SiC) は新しいエネルギー自動車などの様々な産業によってますます好まれている.エレクトロニクス製造,航空宇宙

 

最新の会社ニュース シリコン・カービッドの従来の切削にさよなら! BWTの15Wピコ秒赤外線レーザーは 半導体産業を飛躍させています  0

第三世代の半導体材料,シリコンカービッド (SiC)

 

15W赤外線ピコ秒レーザー: シリコンカービッド加工のための精密ツール

 

伝統的なシリコン電子機器と比較して,シリコンカービッド (SiC) は複数の利点により新しい半導体基板材料になりました.シリコンとシリコンカービッドの物質特性の大きな違いにより既存のIC製造プロセスは,シリコンカービッドの加工要件を完全に満たすことはできません.

 

ウェッファー切断を例に挙げると,機械式割れは従来の方法ですが,シリコンカービッドの処理には不十分であることが判明します.モース硬度が9度以上である場合,ダイヤモンドとほぼ同等ですシリコンカービッドは,切断過程で大量のチップを生成するだけでなく,高価なダイヤモンドシール刃の迅速な磨きを引き起こします. さらに,切断速度は比較的遅いので,そして生成される熱は材料の性質に悪影響を及ぼす可能性があります.

 

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シリコンカービッドのウエフラー

 

しかし,非接触超短パルスレーザー切削技術の出現は,シリコンカービッド加工のための新しい解決策を提供しました.この技術によって,エッジチップを大幅に削減したり,排除したりできます.材料の機械的変化 (裂け目,ストレス,その他の欠陥など) を最小限に抑え,効率的で正確な切削を達成します.同時に,切断幅を最小限に抑えることができます.ワッフルあたりチップの数が大幅に増加費用を削減する.

 

シリコンカービッドの薄膜剥離などのプロセスでは,ピコ秒レーザー技術,そのユニークな利点,業界が好むソリューションとなり,材料加工技術の革新においてますます重要な役割を果たしています.

 

BWTが開発した15Wピコ秒赤外線レーザーは この技術の優れた例ですこの製品は,上記のすべての利点を持っているだけでなく,顧客のニーズに応じてカスタマイズすることができます波長は1064nmで,パルス幅は10PSから150PSまであり,繰り返しの速度は5kHzから1000kHzの間自由調整可能で,平均電力は50kHzで>15Wです.1から10までの選択可能なパルス列数のサポート, M2 < 1 で4射線指針の精度は < 50 urad で,毎回精密で欠陥のない処理を保証します.

 

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BWT 15W ピコ秒赤外線レーザー

 

 

実用的な応用では BWT 15W ピコ秒赤外線レーザーは重要な利点があります処理速度を大幅に改善するだけでなく,製品品質の一貫性や生産性の質的な飛躍を達成するスキャン電子顕微鏡による画像分析は,ピコ秒レーザーで処理されたエッジがより滑らかで,マイクロクラークがほとんど発生しないことを示しています.

 

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シリコンカービッドをBWTレーザーで加工する

 

応用ケース:シリコンカービッド・ウェーファー改造と切断

 

顧客 の 要求

 

高級製造業におけるパワーチップの需要を満たすため,多くの顧客は加工効率と生産量を向上させたいと考えています.特殊な加工品質を達成することを目指す切断効果が目に見えないので 切断痕跡は残らないし 優れている直さで 辺の切断も最小限です材料の損失を減らすことと,ウエフルの出力を最大化することは,顧客にとって重要な問題です..

 

処理 の 課題

 

シリコンカービードの高硬さにより,従来の機械切削方法では理想的な加工結果が得られることが困難です.レーザー切断プロセス中のパラメータの制御は非常に複雑ですレーザー単パルスエネルギー,フィード距離,パルス繰り返しの頻度,パルス幅,スキャン速度などの要因を含みます.これらのパラメータは,上部と下部の両方の表面のアブラーションゾーンの幅に大きく影響します.さらに,シリコンカービッドの高い屈折率により,焦点位置は高い動き精度を必要とする.焦点追跡機能の導入を要するリアルタイムモニタリングと 焦点変動の補償

 

解決策

 

1マルチフォーカス技術: 段階調節技術を使用することで,焦点の数,位置,エネルギーが柔軟に調整できます.複数の焦点がウエファー内の光学軸に沿って生成されるこのアプローチは切断効率を大幅に向上させ,軸裂の発生を効果的に制御します.

 

2屈折指数不一致によって引き起こされる球状屈折を解決するために,レーザービームエネルギーの分布を大幅に改善するために先進的な偏差修正技術が採用されていますレーザーエネルギーが集中し,質と効率の両方を向上させる.


3処理中に表面の波動によって引き起こされる焦点変動をモニタリングすることによって,切断過程中に焦点位置の安定性を確保するためにリアルタイム補償が適用されます.切断品質が安定している.

 

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レーザー 改変 の 後 の 顕微鏡 効果

 

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ミクロスコピー 的 効果

 

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ワファーの横断微小効果

 

2030年までにシリコンカービッド市場が 数十億ドルに達すると予想されています. 安定性,処理柔軟性,材料の適応性シリコンカービッド加工産業のコア機器となり,産業の変革をリードする.

 

 

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2024-12-13
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半導体産業における世界的な競争が激化するにつれて 3代目の半導体材料であるシリコンカービッド (SiC) は新しいエネルギー自動車などの様々な産業によってますます好まれている.エレクトロニクス製造,航空宇宙

 

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第三世代の半導体材料,シリコンカービッド (SiC)

 

15W赤外線ピコ秒レーザー: シリコンカービッド加工のための精密ツール

 

伝統的なシリコン電子機器と比較して,シリコンカービッド (SiC) は複数の利点により新しい半導体基板材料になりました.シリコンとシリコンカービッドの物質特性の大きな違いにより既存のIC製造プロセスは,シリコンカービッドの加工要件を完全に満たすことはできません.

 

ウェッファー切断を例に挙げると,機械式割れは従来の方法ですが,シリコンカービッドの処理には不十分であることが判明します.モース硬度が9度以上である場合,ダイヤモンドとほぼ同等ですシリコンカービッドは,切断過程で大量のチップを生成するだけでなく,高価なダイヤモンドシール刃の迅速な磨きを引き起こします. さらに,切断速度は比較的遅いので,そして生成される熱は材料の性質に悪影響を及ぼす可能性があります.

 

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シリコンカービッドのウエフラー

 

しかし,非接触超短パルスレーザー切削技術の出現は,シリコンカービッド加工のための新しい解決策を提供しました.この技術によって,エッジチップを大幅に削減したり,排除したりできます.材料の機械的変化 (裂け目,ストレス,その他の欠陥など) を最小限に抑え,効率的で正確な切削を達成します.同時に,切断幅を最小限に抑えることができます.ワッフルあたりチップの数が大幅に増加費用を削減する.

 

シリコンカービッドの薄膜剥離などのプロセスでは,ピコ秒レーザー技術,そのユニークな利点,業界が好むソリューションとなり,材料加工技術の革新においてますます重要な役割を果たしています.

 

BWTが開発した15Wピコ秒赤外線レーザーは この技術の優れた例ですこの製品は,上記のすべての利点を持っているだけでなく,顧客のニーズに応じてカスタマイズすることができます波長は1064nmで,パルス幅は10PSから150PSまであり,繰り返しの速度は5kHzから1000kHzの間自由調整可能で,平均電力は50kHzで>15Wです.1から10までの選択可能なパルス列数のサポート, M2 < 1 で4射線指針の精度は < 50 urad で,毎回精密で欠陥のない処理を保証します.

 

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BWT 15W ピコ秒赤外線レーザー

 

 

実用的な応用では BWT 15W ピコ秒赤外線レーザーは重要な利点があります処理速度を大幅に改善するだけでなく,製品品質の一貫性や生産性の質的な飛躍を達成するスキャン電子顕微鏡による画像分析は,ピコ秒レーザーで処理されたエッジがより滑らかで,マイクロクラークがほとんど発生しないことを示しています.

 

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シリコンカービッドをBWTレーザーで加工する

 

応用ケース:シリコンカービッド・ウェーファー改造と切断

 

顧客 の 要求

 

高級製造業におけるパワーチップの需要を満たすため,多くの顧客は加工効率と生産量を向上させたいと考えています.特殊な加工品質を達成することを目指す切断効果が目に見えないので 切断痕跡は残らないし 優れている直さで 辺の切断も最小限です材料の損失を減らすことと,ウエフルの出力を最大化することは,顧客にとって重要な問題です..

 

処理 の 課題

 

シリコンカービードの高硬さにより,従来の機械切削方法では理想的な加工結果が得られることが困難です.レーザー切断プロセス中のパラメータの制御は非常に複雑ですレーザー単パルスエネルギー,フィード距離,パルス繰り返しの頻度,パルス幅,スキャン速度などの要因を含みます.これらのパラメータは,上部と下部の両方の表面のアブラーションゾーンの幅に大きく影響します.さらに,シリコンカービッドの高い屈折率により,焦点位置は高い動き精度を必要とする.焦点追跡機能の導入を要するリアルタイムモニタリングと 焦点変動の補償

 

解決策

 

1マルチフォーカス技術: 段階調節技術を使用することで,焦点の数,位置,エネルギーが柔軟に調整できます.複数の焦点がウエファー内の光学軸に沿って生成されるこのアプローチは切断効率を大幅に向上させ,軸裂の発生を効果的に制御します.

 

2屈折指数不一致によって引き起こされる球状屈折を解決するために,レーザービームエネルギーの分布を大幅に改善するために先進的な偏差修正技術が採用されていますレーザーエネルギーが集中し,質と効率の両方を向上させる.


3処理中に表面の波動によって引き起こされる焦点変動をモニタリングすることによって,切断過程中に焦点位置の安定性を確保するためにリアルタイム補償が適用されます.切断品質が安定している.

 

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レーザー 改変 の 後 の 顕微鏡 効果

 

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ミクロスコピー 的 効果

 

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ワファーの横断微小効果

 

2030年までにシリコンカービッド市場が 数十億ドルに達すると予想されています. 安定性,処理柔軟性,材料の適応性シリコンカービッド加工産業のコア機器となり,産業の変革をリードする.

 

 

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